@article{Gómez-Vargas_Oseguera-Peña_Ortiz-Domínguez_García-Macedo_Solís-Romero_Castellanos-Escamilla_Figueroa-López_Arenas-Flores_Barrientos-Hernández_Cardoso-Legorreta_2015, title={Formación de películas delgadas base TiN sobre un acero AISI M2 mediante la técnica de PVD}, volume={2}, url={https://repository.uaeh.edu.mx/revistas/index.php/aactm/article/view/9712}, DOI={10.29057/aactm.v2i2.9712}, abstractNote={<p>La deposición de películas delgadas de TiN con unos cuantos nanómetros de espesor se llevó a cabo a través de pulverización catódica reactiva de un blanco de Ti en una atmósfera de Ar+N utilizando una fuente de alimentación CC. Las películas depositadas se realizaron sobre probetas de acero AISI M2 cortadas de una barra de 1 a 1.5” de diámetro con espesores máximos de 8 mm. Finalmente, se caracterizaron las capas de TiN empleando diversas técnicas que incluyen: Microscopía Óptica (OM), Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) vinculado con la Espectroscopia de Energía&nbsp;Dispersiva (EDS), Pin on disc y Scratch.</p&gt;}, number={2}, journal={Tópicos de Investigación en Ciencias de la Tierra y Materiales}, author={Gómez-Vargas, O.A. and Oseguera-Peña, J. and Ortiz-Domínguez, M. and García-Macedo, J.A. and Solís-Romero, J. and Castellanos-Escamilla, V.A. and Figueroa-López, U. and Arenas-Flores, A. and Barrientos-Hernández, F.R. and Cardoso-Legorreta, E.}, year={2015}, month={sep.}, pages={118-126} }