Mesinas Romero , M.A., Rivera Landero, I., Reyes Valderrama, M.I., Montiel Hernández, J.F. y Hernández Ávila, J. 2014. Caracterización de placas de circuitos impresos de computadoras por difracción de rayos X (DRX) y microscopía electrónica de barrido (MEB) en conjunción con microanálisis por dispersión de energías (EDS). Tópicos de Investigación en Ciencias de la Tierra y Materiales. 1, 1 (sep. 2014), 2-7. DOI:https://doi.org/10.29057/aactm.v1i1.9925.