Mesinas Romero , M. A. .; Rivera Landero, I.; Reyes Valderrama, M. I.; Montiel Hernández, J. F. .; Hernández Ávila, J. . Caracterización De Placas De Circuitos Impresos De Computadoras Por difracción De Rayos X (DRX) Y microscopía electrónica De Barrido (MEB) En conjunción Con microanálisis Por dispersión De energías (EDS). aactm 2014, 1, 2-7.