Mesinas Romero , M. A., Rivera Landero, I., Reyes Valderrama, M. I., Montiel Hernández, J. F., & Hernández Ávila, J. (2014). Caracterización de placas de circuitos impresos de computadoras por difracción de rayos X (DRX) y microscopía electrónica de barrido (MEB) en conjunción con microanálisis por dispersión de energías (EDS). Tópicos De Investigación En Ciencias De La Tierra Y Materiales, 1(1), 2-7. https://doi.org/10.29057/aactm.v1i1.9925