MESINAS ROMERO , Mirna Alejandra; RIVERA LANDERO, Isauro; REYES VALDERRAMA, María Isabel; MONTIEL HERNÁNDEZ, Justo Fabian; HERNÁNDEZ ÁVILA, Juan. Caracterización de placas de circuitos impresos de computadoras por difracción de rayos X (DRX) y microscopía electrónica de barrido (MEB) en conjunción con microanálisis por dispersión de energías (EDS). Tópicos de Investigación en Ciencias de la Tierra y Materiales, [S. l.], v. 1, n. 1, p. 2–7, 2014. DOI: 10.29057/aactm.v1i1.9925. Disponível em: https://repository.uaeh.edu.mx/revistas/index.php/aactm/article/view/9925. Acesso em: 3 jul. 2025.