MESINAS ROMERO , M. A.; RIVERA LANDERO, I.; REYES VALDERRAMA, M. I.; MONTIEL HERNÁNDEZ, J. F.; HERNÁNDEZ ÁVILA, J. Caracterización de placas de circuitos impresos de computadoras por difracción de rayos X (DRX) y microscopía electrónica de barrido (MEB) en conjunción con microanálisis por dispersión de energías (EDS). Tópicos de Investigación en Ciencias de la Tierra y Materiales, v. 1, n. 1, p. 2-7, 1 sep. 2014.