Mesinas Romero , Mirna Alejandra, Isauro Rivera Landero, María Isabel Reyes Valderrama, Justo Fabian Montiel Hernández, y Juan Hernández Ávila. 2014. «Caracterización De Placas De Circuitos Impresos De Computadoras Por difracción De Rayos X (DRX) Y microscopía electrónica De Barrido (MEB) En conjunción Con microanálisis Por dispersión De energías (EDS)». Tópicos De Investigación En Ciencias De La Tierra Y Materiales 1 (1), 2-7. https://doi.org/10.29057/aactm.v1i1.9925.