Mesinas Romero , M. A., Rivera Landero, I., Reyes Valderrama, M. I., Montiel Hernández, J. F. y Hernández Ávila, J. (2014) «Caracterización de placas de circuitos impresos de computadoras por difracción de rayos X (DRX) y microscopía electrónica de barrido (MEB) en conjunción con microanálisis por dispersión de energías (EDS)», Tópicos de Investigación en Ciencias de la Tierra y Materiales, 1(1), pp. 2-7. doi: 10.29057/aactm.v1i1.9925.