M. A. Mesinas Romero, I. Rivera Landero, M. I. Reyes Valderrama, J. F. Montiel Hernández, y J. Hernández Ávila, «Caracterización de placas de circuitos impresos de computadoras por difracción de rayos X (DRX) y microscopía electrónica de barrido (MEB) en conjunción con microanálisis por dispersión de energías (EDS)», aactm, vol. 1, n.º 1, pp. 2-7, sep. 2014.