Mesinas Romero , M. A., I. Rivera Landero, M. I. Reyes Valderrama, J. F. Montiel Hernández, y J. Hernández Ávila. «Caracterización De Placas De Circuitos Impresos De Computadoras Por difracción De Rayos X (DRX) Y microscopía electrónica De Barrido (MEB) En conjunción Con microanálisis Por dispersión De energías (EDS)». Tópicos De Investigación En Ciencias De La Tierra Y Materiales, Vol. 1, n.º 1, septiembre de 2014, pp. 2-7, doi:10.29057/aactm.v1i1.9925.