Mesinas Romero , Mirna Alejandra, Isauro Rivera Landero, María Isabel Reyes Valderrama, Justo Fabian Montiel Hernández, y Juan Hernández Ávila. «Caracterización De Placas De Circuitos Impresos De Computadoras Por difracción De Rayos X (DRX) Y microscopía electrónica De Barrido (MEB) En conjunción Con microanálisis Por dispersión De energías (EDS)». Tópicos de Investigación en Ciencias de la Tierra y Materiales 1, no. 1 (septiembre 1, 2014): 2-7. Accedido marzo 28, 2024. https://repository.uaeh.edu.mx/revistas/index.php/aactm/article/view/9925.