Mesinas Romero MA, Rivera Landero I, Reyes Valderrama MI, Montiel Hernández JF, Hernández Ávila J. Caracterización de placas de circuitos impresos de computadoras por difracción de rayos X (DRX) y microscopía electrónica de barrido (MEB) en conjunción con microanálisis por dispersión de energías (EDS). aactm [Internet]. 1 de septiembre de 2014 [citado 17 de julio de 2024];1(1):2-. Disponible en: https://repository.uaeh.edu.mx/revistas/index.php/aactm/article/view/9925