[1]
R. . Flores-Cruz, M. Arteaga-Varela, A. de J. . Herrera-Carbajal, A. . Sánchez-Castillo, M. I. . Reyes-Valderrama, y V. Rodríguez-Lugo, «Determinación de las propiedades estructurales, electrónicas y ópticas de siliceno, germaneno y sistema Si-Ge mediante DFT», ICBI, vol. 11, n.º Especial5, pp. 61–65, dic. 2023.