[1]
R. Flores-Cruz, M. Arteaga-Varela, A. de J. Herrera-Carbajal, A. Sánchez-Castillo, M. I. Reyes-Valderrama, y V. Rodríguez-Lugo, «Determinación de las propiedades estructurales, electrónicas y ópticas de siliceno, germaneno y sistema Si-Ge mediante DFT», ICBI, vol. 11, n.º Especial5, pp. 61-65, dic. 2023.