GUADALUPE HERNÁNDEZ, Angélica; KARTHIK TANGIRALA, Venkata Krishna. Microscopía de fuerza atómica para el análisis de materiales. TEPEXI Boletín Científico de la Escuela Superior Tepeji del Río, [S. l.], v. 5, n. 10, 2018. DOI: 10.29057/estr.v5i10.3304. Disponível em: https://repository.uaeh.edu.mx/revistas/index.php/tepexi/article/view/3304. Acesso em: 3 jul. 2025.