Caracterización y estudio de la composición de oro presente en la chatarra electrónica.

  • Abner Hesli Rojas Calva Área Académica de Ciencias de la Tierra y Materiales, Instituto de Ciencias Básicas e Ingeniería
  • María Isabel Reyes Valderrama Área Académica de Ciencias de la Tierra y Materiales, Instituto de Ciencias Básicas e Ingeniería
  • Ventura Rodriguez Lugo Área Académica de Ciencias de la Tierra y Materiales, Instituto de Ciencias Básicas e Ingeniería
  • Eleazar Salinas Rodriguez Área Académica de Ciencias de la Tierra y Materiales, Instituto de Ciencias Básicas e Ingeniería
  • Juan Hernandez Ávila Área Académica de Ciencias de la Tierra y Materiales, Instituto de Ciencias Básicas e Ingeniería
  • Eduardo Cerecedo Sáenz Área Académica de Ciencias de la Tierra y Materiales, Instituto de Ciencias Básicas e Ingeniería
Palabras clave: Characterization, Electronic scrap, Recycling, Gold

Resumen

El enorme auge en la producción y consumo de aparatos eléctricos y electrónicos debidos a nuevas y mejores tecnologías, genera equipos con una menor vida útil consolidándolo como el flujo de residuos de mayor crecimiento a nivel mundial lo cual tiene como consecuencias problemáticas de carácter ambiental y de salud humana. Sin embargo, estos desechos contienen una gran cantidad de metales nobles, fundamentado en que cada placa de circuito impreso (presenta de 0.1 a 0.5 gramos de oro, frente a una extracción de 1 a 5 gramos de oro por tonelada de mineral. Teniendo en cuenta estos datos, la recuperación metálica de la chatarra electrónica por diversos procesos ha sido considerada como una fuente secundaria comercialmente viable de extracción de metales. Previamente a una recuperación de metales, es importante conocer las cantidades representativas de metales específicos contenidos en los desechos electrónicos. Es por ello que en este trabajo de investigación se llevó a cabo una amplia caracterización cualitativa, cuantitativa y semicuantitativa de materiales de desechos de equipos de cómputo de diferentes épocas, identificando componentes ricos en oro; utilizando técnicas como Difracción de Rayos X, Microscopia Electrónica de Barrido en conjunto con Microanálisis por Dispersión de Energías y Espectroscopía de Plasma de Acoplamiento Inducido. Como resultado se obtuvieron concentraciones máximas de oro del 99.4 % en peso en pines soportados en el procesador.

Citas

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Publicado
2018-07-05